元器件:电阻:start
差别
这里会显示出您选择的修订版和当前版本之间的差别。
两侧同时换到之前的修订记录前一修订版后一修订版 | 前一修订版 | ||
元器件:电阻:start [2023/10/10 18:53] – [额定电流(Rated Current)] hwwiki | 元器件:电阻:start [2024/08/19 17:30] (当前版本) – [标称阻值(Nominal Resistance)] hwwiki | ||
---|---|---|---|
行 28: | 行 28: | ||
[({{ : | [({{ : | ||
[([[https:// | [([[https:// | ||
- | 具体的阻值如下图[({{ : | + | 具体的阻值如下图[({{ : |
阻值表说明几点:\\ | 阻值表说明几点:\\ | ||
行 35: | 行 35: | ||
* 同一系列的数值近似一个等比系列,如E12为10< | * 同一系列的数值近似一个等比系列,如E12为10< | ||
* 目标准阻值按阻值表中值除以或乘以10的倍数,如如13.3可代表13.3Ω、1.33Ω、133Ω、1.33kΩ、13.3KΩ、133KΩ,1.33MΩ\\ | * 目标准阻值按阻值表中值除以或乘以10的倍数,如如13.3可代表13.3Ω、1.33Ω、133Ω、1.33kΩ、13.3KΩ、133KΩ,1.33MΩ\\ | ||
- | {{: | + | |
+ | 另可参考[[https:// | ||
+ | |||
+ | {{: | ||
==== 公差(Tolerance)==== | ==== 公差(Tolerance)==== | ||
行 94: | 行 97: | ||
施加绝缘耐电压到指定电阻元件和外涂层之间,或电阻元件和安装表面,不会导致击穿。一般都远大于[[# | 施加绝缘耐电压到指定电阻元件和外涂层之间,或电阻元件和安装表面,不会导致击穿。一般都远大于[[# | ||
[({{ : | [({{ : | ||
- | [( [[http:// | + | [({{ :元器件: |
====额定电流(Rated Current)==== | ====额定电流(Rated Current)==== | ||
行 100: | 行 103: | ||
====最大电流(Max. Current)==== | ====最大电流(Max. Current)==== | ||
- | 可加载在电阻上的最大电流,一般Jumper(0Ω电阻)厂家才提供此参数,其他阻值电阻厂家一般提供[[# | + | 可加载在电阻上的最大电流,一般Jumper(0Ω电阻)厂家才提供此参数,其他阻值电阻厂家一般提供[[# |
{{: | {{: | ||
行 114: | 行 117: | ||
对于上述公式,ROHM提供了对应的计算工具[[https:// | 对于上述公式,ROHM提供了对应的计算工具[[https:// | ||
- | 一典型的±100ppm/ | + | 一典型的±100ppm/ |
{{: | {{: | ||
行 127: | 行 130: | ||
====临界电阻值 (Critical Resistance)==== | ====临界电阻值 (Critical Resistance)==== | ||
刚好满足[[# | 刚好满足[[# | ||
- | [( [[http:// | + | [({{ :元器件: |
{{: | {{: | ||
====电阻电压系数 (Voltage Coefficient of Resistance - VCR)==== | ====电阻电压系数 (Voltage Coefficient of Resistance - VCR)==== | ||
- | 电压系数是外加电压与电阻值的变化量,这是完全不同于功率导致电阻自身加热的影响[([[http:// | + | 电压系数是外加电压与电阻值的变化量,这是完全不同于功率导致电阻自身加热的影响[({{ :元器件: |
公式如下: | 公式如下: | ||
行 138: | 行 141: | ||
Ro: 在高电压下量测阻值 (Ω) ; Vo: 高电压 | Ro: 在高电压下量测阻值 (Ω) ; Vo: 高电压 | ||
- | VCR示例如下图[([[https:// | + | VCR示例如下图[({{ :元器件: |
- | ]])]:\\ | + | |
{{: | {{: | ||
行 147: | 行 149: | ||
====噪声(Noise)==== | ====噪声(Noise)==== | ||
- | 噪声公式如下,一般应用无需考虑中此参数,在噪声敏感电路中才需要考虑中此参数。\\ | + | 噪声公式如下,一般应用无需考虑中此参数,在噪声敏感电路中需要考虑此参数。\\ |
Noise=thermal noise +current noise(1/f noise) \\ | Noise=thermal noise +current noise(1/f noise) \\ | ||
行 155: | 行 157: | ||
从公式可看出,热噪声由温度、阻值和频率决定,和电阻所用的材料无关,如薄膜和厚膜电阻是一样的。\\ | 从公式可看出,热噪声由温度、阻值和频率决定,和电阻所用的材料无关,如薄膜和厚膜电阻是一样的。\\ | ||
- | current noise(1/f noise)电流噪声,由自由电子的运动产生,其大小取决于电阻的材料和结构,随频率的增大而减少[([[https:// | + | current noise(1/f noise)电流噪声,由自由电子的运动产生,其大小取决于电阻的材料和结构,随频率的增大而减少[({{ :元器件: |
{{: | {{: | ||
====稳定性(Stability)==== | ====稳定性(Stability)==== | ||
- | 受热、电或机械因素影响,阻值会发生变化。稳定性等级表征最大允许使用温度范围,通过标准中定义的程序测试稳定性(如下表)。短期测试包括过载、端子的机械稳固性、抗焊接热、快速温度变化,以及振动。长期测试包含的标准诸如气候序列、潮湿热、长期暴露在最高允许使用温度中,周期性电气负载(载荷寿命)下长期暴露在70 °C 环境温度中[([[https:// | + | 受热、电或机械因素影响,阻值会发生变化。稳定性等级表征最大允许使用温度范围,通过标准中定义的程序测试稳定性(如下表)。短期测试包括过载、端子的机械稳固性、抗焊接热、快速温度变化,以及振动。长期测试包含的标准诸如气候序列、潮湿热、长期暴露在最高允许使用温度中,周期性电气负载(载荷寿命)下长期暴露在70 °C 环境温度中[({{ :元器件: |
| STABILITY | | STABILITY | ||
行 169: | 行 171: | ||
| 0.05 | ± (0.05 % · R + 0.01 Ω) | ± (0.025 % · R + 0.01 Ω) | | | 0.05 | ± (0.05 % · R + 0.01 Ω) | ± (0.025 % · R + 0.01 Ω) | | ||
- | SEI文档[[https:// | + | SEI文档{{ :元器件: |
====脉冲稳定性(Pulse Stability)==== | ====脉冲稳定性(Pulse Stability)==== | ||
- | 如果电阻器经受脉冲而非恒定负载,短期内它可以承受额定值数倍的负载,不影响它的长期稳定性[([[https:// | + | 如果电阻器经受脉冲而非恒定负载,短期内它可以承受额定值数倍的负载,不影响它的长期稳定性[({{ :元器件: |
- | 如对于YAGEO的RC系列电阻,按标准EN140401-802 (1.10.6.4),施加持续时间10us/ | + | 如对于YAGEO的RC系列电阻,按标准EN140401-802 (1.10.6.4),施加持续时间10us/ |
{{: | {{: | ||
- | 不同类型的电阻,其脉冲稳定性也不同,如下图[([[https:// | + | 不同类型的电阻,其脉冲稳定性也不同,如下图[({{ :元器件: |
{{: | {{: | ||
更多详细介绍请参考如下文档:\\ | 更多详细介绍请参考如下文档:\\ | ||
- | [[https:// | + | [[:元器件: |
- | [[https:// | + | {{ :元器件: |
- | [[https:// | + | {{ :元器件: |
- | [[https:// | + | {{ :元器件: |
- | [[https:// | + | {{ :元器件: |
==== 高频特性(High Frequency Characteristics) ==== | ==== 高频特性(High Frequency Characteristics) ==== | ||
除了阻值,随着频率增加,电阻的寄生电容和电感会显著影响电阻的阻抗。\\ | 除了阻值,随着频率增加,电阻的寄生电容和电感会显著影响电阻的阻抗。\\ | ||
- | 电阻在高频下的等效模型如下,L为寄生串联电感,C为寄生并联电容[([[https:// | + | 电阻在高频下的等效模型如下,L为寄生串联电感,C为寄生并联电容[({{ :元器件: |
{{: | {{: | ||
行 199: | 行 201: | ||
热电动势通常很小,一般在 μV量级,它是电阻两端的端子处,因不同金属有不同的温度引起的(类似热电偶的测温原理)。对于直流电路中使用的低阻值电阻以及特殊电流检测电阻而言,热电动势是一个需要重点考虑的因素。一般的应用无需考虑此参数。 | 热电动势通常很小,一般在 μV量级,它是电阻两端的端子处,因不同金属有不同的温度引起的(类似热电偶的测温原理)。对于直流电路中使用的低阻值电阻以及特殊电流检测电阻而言,热电动势是一个需要重点考虑的因素。一般的应用无需考虑此参数。 | ||
- | 下图为阻值为50mΩ 的WSL2512系列Power Metal Strip电阻与不同技术电阻的特性比较,图示电阻都为金属条形电阻,另加一颗厚膜电阻热电动势特性值,以上图示电阻阻值均为 50mΩ[([[https:// | + | 下图为阻值为50mΩ 的WSL2512系列Power Metal Strip电阻与不同技术电阻的特性比较,图示电阻都为金属条形电阻,另加一颗厚膜电阻热电动势特性值,以上图示电阻阻值均为 50mΩ[({{ :元器件: |
{{: | {{: | ||
==== 热阻 (Thermal resistance) ==== | ==== 热阻 (Thermal resistance) ==== | ||
- | 热阻阻碍电阻产生的热的耗散,其值大小和装配(即散热)密切相关[([[https:// | + | 热阻阻碍电阻产生的热的耗散,其值大小和装配(即散热)密切相关[({{ :元器件: |
- | Page4]])]。当电阻应用在大电流、大功率情况下,需要考虑此参数,考虑散热。\\ | + | Page4}})]。当电阻应用在大电流、大功率情况下,需要考虑此参数,考虑散热。\\ |
温升和功率、热阻的关系如下:\\ | 温升和功率、热阻的关系如下:\\ | ||
行 222: | 行 224: | ||
===== 分类 ===== | ===== 分类 ===== | ||
依据所使用材料和工艺,线性固定电阻器可按下表分类(一些特殊的电阻器未在下表中,如水泥、陶瓷电阻),满足要求的情况下,首选厚膜,次选金属薄膜,其他类型的电阻一般都用于特定场合。 | 依据所使用材料和工艺,线性固定电阻器可按下表分类(一些特殊的电阻器未在下表中,如水泥、陶瓷电阻),满足要求的情况下,首选厚膜,次选金属薄膜,其他类型的电阻一般都用于特定场合。 | ||
- | [([[https:// | + | [({{ :元器件: |
- | [([[https:// | + | [({{ : |
- | [([[https:// | + | [({{ :元器件: |
^ 工艺技术\\ TECHNOLOGY | ^ 工艺技术\\ TECHNOLOGY | ||
| 薄膜/ | | 薄膜/ | ||
行 237: | 行 239: | ||
{{: | {{: | ||
- | 常见电阻类型的参数大致如下,这个参考文档[([[https:// | + | 常见电阻类型的参数大致如下,这个参考文档[({{ :元器件: |
{{: | {{: | ||
行 247: | 行 249: | ||
===== 失效 ===== | ===== 失效 ===== | ||
- | Damage to Thick-Film Resistors Due to Surges [(https:// | + | |
- | Resistance Failure Due to Solder Cracks[(https:// | + | |
- | Resistor Sulfuration[(https:// | + | |
- | Usage exceeding the rated power[(https:// | + | |
- | Destruction Due to Overload[(https:// | + | |
- | 电阻使用ROHM注意事项[(https:// | + | |
- | 失效机理: | + | |
- | 片式电阻位置:SURFACE MOUNT RESISTORS TECHNICAL GUIDE.pdf 9.2.2. Components arrangement \\ | + | |
- | Notes Resistors Rohm.pdf \\ | + | |
- | bourns_sulfur-resistant_film_resistor_networks_white_paper.pdf\\ | + | |
- | 20200312 coefficient of thermal expansion for chip resistors.pdf \\ | + | |
- | 电阻的失效模式与失效机理.pdf \\ | + | |
- | 硬件工程师必读:史上最全电阻、电容、电感、半导体器件失效分析.pdf \\ | + | |
===== 存储 ===== | ===== 存储 ===== | ||
- | SURFACE MOUNT RESISTORS TECHNICAL GUIDE.pdf 8.3. Storage method \\ | ||
- | 20200828 component shelf life.pdf \\ | ||
===== 测量 ===== | ===== 测量 ===== |
元器件/电阻/start.1696935209.txt.gz · 最后更改: 2023/10/10 18:53 由 hwwiki